- 《Surface Topography: Metrology and Properties》
- 语言:外文
- ISSN:2051-672X
- 核心刊:;Scopus;Ei Compendex(2018);SCIE(科学引文索引)(美)(2020);
- 收录情况:SCIENCE CITATION INDEX EXPANDED;Scopus;Ei Compendex(2018);SCIE(科学引文索引)(美)(2018);
- 周期:季刊
- 影响因子:2018:2.439;2017:2.074;
- 学科分类:物理学 机械 材料科学 冶金
- 来源数据库:
- IOP Electronic Journals (1874-)